CSK-IB(或CSK-1B、 CSK-ZB)
这3个型号是同一试块,在JB/T8428-2006第6页有说明
两个试块的主要区别在于:CSK-IA只有K值刻度,CSK-IB试块在原有CSK-IA的基础上增加了测试斜探头折射角的刻度面。使用要点如下:
1)利用厚度25mm测定探伤仪的水平线性、垂直线性和动态范围;
2)利用厚度25mm和高度100mm调整纵波探测范围;
3)利用R50和R100校定时基线或测定斜探头的入射点;
4)利用高度85、91、100ram测定直探头的分辨力;
5)利用中40、中44、中50ram曲面测定斜探头的分辨力;
6)利用中50有机玻璃圆孔测定直探头盲区和穿透能力;
7)利用中50曲面和巾1.5横孔测定斜探头的K值;
8)利用高度9lmm(纵波声程9lmm相当于横波50mm)调节横波1:1扫描速度,配合R100作零位校正;
9)、利用试块直角棱边测定斜探头的声轴偏斜角。
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