日立X-Strata920X射线荧光镀层测厚仪
日立X-Strata920使用X射线荧光(XRF)进行的镀层厚度测量是经过证明的快速的无损分析技术,X-Strata920设计为面向电子产品和金属表面 处理,测量单层和多镀层(包括合金层),应用相关人士对 X-Strata920 进行了进一步升级, 确保获得可靠、可重复结果,满足数百种应用,包括 PCB 表面处理、连接器镀层、耐腐蚀处理、装饰表面 处理、耐磨损处理、耐高温处理等。
X-Strata920X这一不错的工具可确保样品符合规格,同时通过避免过度电镀和返工来降低成本。操作员只需加载样品,将其定位在屏幕上的目标下方,使用激光焦点对齐,即可开始测量。结果在几秒内即可显示出来,然后操作员可快速执行下一个任务。得益于通过可追溯标准打造的优化校准方式,您将对结果的准确性充满信心。日本日立提供多种镀层厚度解决方案EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1400VX、EA6000VX、EA8000VX、FT110A、FT160、FT160s、X-Strata920)
使用X-Strata920可遵从各种行业规范,如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。
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