产品描述
NZ-AF210数字式覆层测厚仪又名涂层测厚仪,是磁性便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域，是材料保护专业必备的仪器。
NZ-AF210数字式覆层测厚仪主要特点：
采用了磁性测厚方法，既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度 ;
具有两种测量方式：连续测量方式（ CONTINUE ）和单次测量方式（ SINGLE ） ;
具有两种工作方式：直接方式（ DIRECT ）和成组方式（ GROUP ）；
设有五个统计量：平均值（ MEAN ）、值（ MAX ）、小值（ MIN ）、测试次数（ NO. ）、标准偏差（ S.DEV ）；
可采用两种方法仪器起进行校准 , 并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正 ;
具有存贮功能：可存贮 500 个测量值；
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；并可用直方图对一批测量值进行分析；
具有打印功能：可打印测量值、统计值、限界、直方图；
具有与 PC 机通讯的功能：可将测量值、统计值传输至 PC 机，以便对数据进行进一步处理；
具有电源欠压指示功能；
操作工程有蜂鸣声提示；
具有错误提示功能，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示；
设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式；
NZ/AF210数字式覆层测厚仪参数介绍：
| 测头类型 | F | |
| 工作原理 | 磁感应 | |
| 测量范围 (µm) | 0~1250 | |
| 低限分辨率 (µm) | 0.1 | |
| 示值 | 一点校准 (µm) | ± (3%H+1) |
| 二点校准 (µm) | ± [(1~3%H)+1] | |
| 测试条 | 小曲率半径 (µm) | 凸 1.5 |
| 小面值的直径 (mm) | Φ 7 | |
| 基体临界厚度 (mm) | 0.5 | |
NZ/AF210数字式覆层测厚仪测头选用参考表：
| 覆盖层-基体 | 有机材料等非磁性覆盖层 (如：漆料、涂料塑料、搪瓷和阳极化处理等) |
非磁性的有色金属覆盖层 (如：铬、锌、铝、铜、锡、银等) |
| 如铁、钢等磁性金属 | F 性探头 测量范围：0µm~1250µm |
F 型探头 测量范围：0µm~1250µm |
相关推荐
其他供应
-
单价：电议 元
相关推荐
免责申明：以上所展示的信息由企业自行提供，内容的真实性、准确性和合法性由发布企业负责，铝道网对此不承担任何保证责任。为保障您的利益，我们建议您选择铝道网的 铝业通会员。友情提醒：请新老用户加强对信息真实性及其发布者身份与资质的甄别，避免引起不必要
风险提示：创业有风险，投资需谨慎。打击招商诈骗，创建诚信平台。维权举报：0571-89937588。
- 南京能兆科技有限公司
- 经营模式：制造商+贸易商+代理经销商
- 主营：测厚仪,硬度计,推拉力计,法国KIMO,法国KIMO风速仪,温度计,差压计
- 地区：江苏 南京
联系方式
留言咨询
