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SEB20双晶探头

价格

6800 元/个

  • 单价:电议
  • 最小起订量: 1
  • 所在地:上海 上海
  • 供货总量: 10
  • 发布时间:2016-11-30

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产品描述

SEB..和SEB..O°系列探头特点:        用于探测棒材、坯块、杆等中心缺陷的标准探头。经常用作在中等和大尺寸物体(如锻造或铸造的物体)中预期区域内缺陷的探测(如气孔、微孔和热裂缝)。更适合于用作与物体平面平行的缺陷区域范围的确定(如层状结构缺陷、渣孔及厚钢板中的他隔线)。 具体型号有: SEB1、SEB1-EN、SEB2、SEB2-EN、SEB2- O°、SEB4、SEB4-EN、 SEB4- O°、SEB4-EN- SEB2-EN-O° 德国KK探头SEB2-EN双晶探伤仪直探头主要应用: 通常:近表面的小缺陷探测和评估。焦点内大缺陷以及平行于表面分布的缺陷检测。剩余壁厚的测量(即使在高温情况下)。 l         壁厚余量,锈蚀、腐蚀 l         近表缺陷检测 l         小零件—螺钉,螺栓,销钉 l         覆层和堆焊层 l         粘接检测 l         轴,杆,方坯芯部缺陷 l         粗晶材料

 

德国KK探头SEB2-EN双晶探伤仪直探头主要特性: l         近表分辨率极佳 l         与曲面和粗糙面耦合好 l         散射噪声较小 l         对曲面工件也能沿其轮廓进行检测 l         欧款有侧装Lemo 00连接口,SEB..KF型Microdot侧装 l         美款有固定BNC电缆(ADP)或侧装MMD(FDU)

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