供应德国EPK公司新型铝氧化膜测厚仪

创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的性　-测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用　-FN探头自动识别F（铁磁性）或N（非磁性）基体，操作方便不易出错　SIDSP技术-全球，智能数字化的涂层测厚探头　MINITEST700优点一览：　-SIDSP使测量不受干扰，测值更加　-可更换探头使用更加灵活（MINITEST740探头可由内置换为外置）　-FN探头自动识别基体，使测量更迅速，避免操作错误　-温度补偿功能避免温度变化引起的错误　-生产过程中50点校准使仪器获得高度的特征曲线　-大存储量，能存储10或100组多达100,000个读数　-读数和统计值能单独调出　-超大，背光显示屏，显示内容可180度旋转　-菜单指引操作，25种语言可选　-带IrDA接口，红外线传输数据到打印机和PC　-可下载更新软件　标准配置：　推荐配件：　带塑料手提箱或防尘套，内含：　-F1.5/N0.7/FN1.5探头用测量支架　-MINITEST720(内置探头)　--或MINITEST730（外置探头）　--或MINITEST740主机（不含探头，有各种探头可选）　-校准套装含校准片和零板　-操作使用说明CD，德语、英语、法语、西班牙语　-2节AA电池　技术数据表　MINITEST740主机用SIDSP探头探头特性　F1.5，N0.7，FN1.5　F2　F5，N2.5，FN5　F15　F　N　F　F　N　F　测量范围　0-1.5mm　0-0.7mm　0-2mm　0-5mm　0-2.5mm　0-15mm　使用范围　小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用　粗糙表面　标准探头，使用广泛　厚涂层测量原理　磁感应　电涡流　磁感应　磁感应　电涡流　磁感应信号处理　探头内部32位信号处理（SIDSP）度　±（1μm+0.75%读值）　±（1.5μm+0.75%读值）　±（5μm+0.75%读值）重复性　±（0.5μm+0.5%读值）　±（0.8μm+0.5%读值）　±（2.5μm+0.5%读值）低端分辨率　0.05μm　0.1μm　1μm　小曲率半径（凸）　1.0mm　1.5mm　5mm　小曲率半径（凹，外置探头）　7.5mm　10mm　25mm　小曲率半径（凹，内置探头）　30mm　30mm　30mm　小测量面积　Φ5mm　Φ10mm　Φ25mm　小基体厚度　0.3mm　40μm　0.5mm　0.5mm　40μm　1mm　连续模式下测量速度　每秒20个读数单值模式下大测量速度　每分钟70个读数　主机型号特性　MINITEST720　MINITEST730　MINITEST740　探头类型　内置探头　外置探头　内置外置可换数据记忆组数　10　10　100　存储数据量　多10,000个　多10,000个　多100,000个统计值　读值个数，小值，大值，平均值，标准方差，变异系数，组统计值（标准设置/自由配置）校准程序符合国际标准和规范　ISO，SSPC，瑞典标准，澳大利亚标准校准模式　出厂设置校准，零点校准，2点校准，3点校准，使用者可调节补偿值极限值监控　声、光报警提示超过极限测量单位　um，mm，cm；mils，inch，thou　操作温度　-10℃-60℃　存放温度　-20℃-70℃　数据接口　IrDA1.0（红外接口）电源　2节AA电池标准　DINENISO1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840　ASTMB244，B499，D7091，E376　AS3894.3，SS184160，SSPC-PA2　体积　157mmx75.5mmx49mm　重量　约175g　约210g　约175g（内置）/230g（外置）