产品描述
深圳市金东霖科技有限公司是长期专注于仪器、仪表领域。本公司倡导&ldquo专业、务实、高效、创新&rdquo的企业精神，具有良好的内部机制。优良的工作环境以及良好的激励机制，吸引了一批高素质、高水平、高效率的人才。拥有完善的技术研发力量和成熟的售后服务团队。我们的宗旨是：&ldquo用服务与真诚来换取你的信任与支持，互惠互利，共创双赢！&rdquo我公司愿与国内外各界同仁志士竭诚合作，共创未来！
膜厚仪性能，可测量任一测量点，小可达0.025 x 0.051毫米。能够测量
包含原子序号13至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体极薄的浸液镀层
（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的
成份百分含量可同时测定多5层、15 种元素。 度领先于世界，到
0.025um (相对与标准片)
数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析
报告格式要求 ；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等
。 统计功能提供数据平均值、误差分析、大值、小值、数据变动范围、相
对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、XbarR图等多种
数据分析模式。 XULM X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品
；
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