膜厚仪操作 WINWIF系统、WIN系统及FIM系统,其适合用于微电子器件、数据
偶合器、光通讯和数据贮存、半导体、光通讯、微电子、光子学、无源器件和
薄层磁头金属化分析等。
膜厚仪操作,博曼膜厚仪能提供各类金属层、合金层厚度的快速、准确、稳定
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金电镀、首饰、端子等行业的
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蓝图。
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