膜厚仪（美国博曼）

美国镀金XRAY膜厚测试仪结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。

美国镀金XRAY膜厚测试仪产品特点：即放即测！ 

通过自动定位功能，放置样品后仅需几秒，便能自动对准观察样品焦点。 

10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！ 

美国膜厚仪以的设计实现微小区域下的高灵敏度，即使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度地提高膜厚测量的精度。 

无标样测量！ 将薄膜FP软件进一步扩充，即使没有厚度标准物质也能进行高精度的测量。也可简单地测量多镀层膜和合金膜样品。 通过广域观察系统更方便选择测量位置！ 通过广域观察系统，能够从画面上的样品整体图（250×200mm）中方便地指定测量位置。

今天，在科技飞速发展的时代，对品质的要求也越来越高，博曼（bowman）可以达到您的要求，保证并提高你的产品品质！

美国博曼金镍膜厚仪（膜厚仪）能提供金属镀层厚度的测量同时可对电镀液进行分析不单性能优越而且价钱超值.只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台镭射自动对焦系统十字线自动调整.超大开放式的样品台可测量较大的产品.是线路板五金电镀首饰端子等行业的.可测量各类金属层、合金层厚度.

金镍膜厚仪（测厚仪）可测元素范围：

氯(CL) &ndash 铀(U)

可测量厚度范围：

原子序2225，0.10.8&mum&le

2640，0.0535&mum

4352，0.1100&mum

7282，0.055&mum

X射线管：油冷超微细对焦

高压：050KV(程控)

电脑系统：IBM相容17&rdquo显示器

金镍膜厚仪（测厚仪）的性能比：能够有效并的测量合金属成分，只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 

二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 

三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。 

双镀层：例如AuNiCu，CrNiCu，AuAgNi，SnCuBrass，等等。 

双镀层，其中一个镀层为合金层：例如CrNiCuPlastic；Fe。

期待您的来电，金东霖