比表面及孔径分析仪

JW-K型氮吸附比表面积及孔径分布分析仪 精微高博公司研制系列比表面积分析仪、比表面积及孔径分布仪、BET法比表面积仪、比表面积测定仪等，技术参数如下： 主机功能： （1）吸（脱）附等温曲线测定 （2）孔径分布测定 （3）BET比表面测定，并可测定吸附常数C 值 （4）比表面快速测定（直接对比法） 测定范围： （1）孔径：2nm～200nm (2) 比表面：0.1~3500㎡/g 测量原理： 动态常压连续氮吸附法（国内首创） 气体： 高纯氮（99.99%）、高纯氦（99.99%） 气体流量： ≤100mL/min 流量控制： 稳压稳流系统，高精度流量传感器，数字显示，显示精度0.1% 测量压力： 常压 氮气相对压力：调节范围 0.05-0.98 测量重复精度：≤±3% 测试时间： （1）BET比表面：平均每个样品30分钟 （2）孔径分布：平均每个样品3～4小时 （3）数据采集：恒流电路，气体浓度传感器工作站，放大及滤除杂波系统，采集速度100次/秒。