光谱仪 X射线荧光能谱仪(EDXRF)

Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光谱仪提供优异的痕量分析灵敏度，打破了1纳米的检测限瓶颈。
专为满足实验室和制造环境中较具挑战性的分析需求而设计，ARL QUANTX EDXRF 光谱仪的功能和灵活性可非常大程度提高各种元素分析应用的分析量。

能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备，实现主量、次量和痕量元素分析，所分析样品范围广泛，可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。

先进的技术

• 独特的 Peltier 电制冷 Si (Li) 检测器

• 数字脉冲处理 (DPP) 技术

• 高性能、多元素分析

主要功能 

• 优异的痕量分析灵敏度

• 高分析量的进程控制

• 适用于异常材料的高等分析算法

• 优异的样品处理灵活性

• 机械简化和灵活性

• 占地面积小、易于运输以进行野外测量

• 快速、简易的安装以及可完全现场定制

• 随附完整的实验室启用套件

• 经验证的硬件和全套软件

• 现场、协同方法开发

• 完整的技术应用支持

• 汇集了数百种应用的专业知识

功能强大、易于使用的 WinTrace*软件 

• 无标和半无标分析

• 基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法

• 多层厚度及成分

• 不限元素、不限数量的标样

• 利用自动化操作实现多个激发条件

可用于：

• 悬浮颗粒物过滤器

• 符合 RoHS 及 WEEE 的分析

• 法医及痕量分析

• 营养补充剂

• 磁性介质和半导体

• 土壤污染

• 过滤器上的薄膜

• 塑料中的有毒元素