氧化膜测厚仪

 

ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪： 
ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪特别适用于工程现场高精度的测量； 
ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪配合涡流探头： 
FTA3.3H，测量范围：0 - 1200 μm

ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪适合于使用在不需要全部测量数据存储，评估和输出，但又需要在各种几何外形和镀层厚度范围的测试工件上测量的情况下。配有不同种类的探头以适应各种应用情况。探头自动识别。应用程式特定的校准参数储存在测量探头中，因此仪器一旦连接了任何探头都能立即进行测量。
ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪有一个独特的和便于读取的60 x 30 mm (2.4" x 1.2")液晶显示器。大量显示的信息使得操作异常简便，包括单个测量读数，测量次数，以及显示操作模式和设置的图标和符号， 2行文本各16个字母或可自由选择的符号以用于显示数据和操作员提示。 
ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪采用根据DIN EN ISO 2360, ASTM B244标准的电涡流方法，适用于测量：

• 非导电涂层在非铁金属基材上，例如：油漆、腊克和合成涂层在铝、铜、黄铜、锌和不锈钢上
• 铝的阳极氧化层(非铁基材)

ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪常用涡流探头：FTA3.3H，测量范围：0 - 1200 μm，测量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～8000μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5%