检测误差 :
2%
元素分析范围 :
从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围 :
1PPm到99.99%
镀层检测厚度范围 :
0.05-40μm
能量分辨率 :
129±5eV
检测误差 :
2%
元素分析范围 :
从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围 :
1PPm到99.99%
镀层检测厚度范围 :
0.05-40μm
能量分辨率 :
129±5eV
技术性能及指标:
元素分析范围从钠(Na)到铀(U);
元素含量分析范围为1PPm到99.99%;
测量时间:100-300秒(可调);
同时分析镀层层数:多达3层
镀层检测厚度范围:0.05-40μm(视材料类型而有所不同)
采用微聚焦准直技术,小可达Ф0.5mm,应对小样品和不规则样品测试轻松自如。
RoHS指令有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br)其检出限高达1PPM,Cl高达50PPM;
探测器:美国电致冷SDD半导体探测器,能量分辨率:129±5eV;
高压系统 :50KV/1mA;
X光管:50W,铍窗,50kV/1000uA。
产品特点
EDX8300H配备抽真空,更好地应对RoHS、无卤等环保指令,配置了真空测试系统,增加了元素测试范围,探测器配备SDD的测试系统,特别是提高了Na、Mg、Al、Si等轻元素的检出限,度提高了,同时在测试Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl等其他元素的重复性稳定性有了明显的提高。
整体结构化设计,仪器美观大方。
采用美国的SDD探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确且维护成本低。
采用自主研发的SES信号处理系统,有效提高峰背比,让测量更***。
一键式自动测试,使用更简单,更方便,界面更人性化。
七种光路校正准直系统,根据不同样品自动切换。
多重防辐射泄露设计,辐射防护级别属于同类产品。
优化一体化散热设计,使整机散热性能得到更大提高,确保X射线源的运行安全。
***的机芯温度监控技术,确保射线源的***运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本。
多重仪器配件保护系统,并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。
***真空测试软件,是否抽真空可自由选择,真空度实时显示,标准视窗设计,界面友好,操作简便,所有控制均在轻点鼠标之间。
本机采用USB2.0接口,有效保证数据准确高速***传输。
***的全自动真空系统,***屏蔽空气对轻元素测试的影响,提高了轻元素的检出限,同时也扩大了检测范围。
一体化真空腔体设计,有效地保证了符合测试要求的真空度,同时提高了设备的可维性。
抽真空测试和不抽真空测试转换简单,方便客户使用;同时开盖即解除真空,安全、简单实用。
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