产品描述
一、 主要特点
(1)、可对F(9)-Fm(100)(次ppm~100%)进行无损定性、定量分析；
(2)、6款管滤光片，更快更的测定微量及痕量元素；
(3)、可配置硅漂移探测器SDD (分辨率为129eV)，适于高和低原子序数的元素分析检测；
(4)、外型坚固耐用，适于移动实验室，符合冲击试验MIL810E规格；
(5)、配备集成电脑、专业nEXt™分析软件，操作方便；
二、主要技术参数
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系统规格 |
PD 版本 |
SDD 版本 |
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测量范围 |
Na(11) - Fm(100) |
F(9) - Fm(100) |
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测量浓度 |
ppm -100% |
次 ppm -100% |
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X-射线管靶材 |
Rh靶 (Ag/Mo/W/Pd靶) |
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X-射线管电压/功率 |
35 kV, 9W |
40 kV, 18 W |
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激发类型 |
直接激发，管滤光片 |
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探测器 |
电制冷PIN二极管 |
硅漂移探测器SDD |
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分辨率(FWHM) |
155 eV ± 10 eV |
129 eV ± 5eV |
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自动进样器 |
8位 |
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工作环境 |
空气/真空/氦气 |
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管滤光片 |
6款软件可选 |
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操作软件 |
nEXt™分析包(包含基础基本参数法)，Microsoft Windows™ OS操作系统。 |
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报告 |
用户自定义数据打印输出 |
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选配件 |
16位自动进样器、专业基本参数法、氦气净化器、CCD摄像头等 |
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三、应用领域
石油化工、冶金/合金样品
环境、石油/燃料/柴油等、医药生物化学等
矿产地质(含稀土元素)、贵金属检测、法鉴
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