LED灯具寿命快速评估系统

JT/LA-I-G大型LED灯具快速寿命评估系统

快速的结温测量与寿命评估

l 寿命评估耗时：48小时以内

l 寿命评估精度：±10%

l 结温测量精度：±2℃

l 环境模拟精度：±1℃

现有技术弊端

结温是影响LED灯具寿命的关键因素。由于整灯中LED芯片已被外壳完全固定和包裹，传统的接触式测试方式无法测量其结温，必须破坏灯具才能完成；而传统的LED灯具寿命测量方法需要上千小时的高温老化，成本极高且费时费力；受到加工、装配、工艺等的影响，芯片、模组的工况与整灯完全不同，若将两者数据等同，是很不科学的。

技术突破

本设备为国内外首套集高精度结温测量和快速寿命评估为一体，在对样品不产生任何破坏的前提下进行结温测量和灯具寿命评估，可在48小时内获得样品在任意环境温度（+5℃ ~ +125℃）工作时的结温和寿命；采用光学法测量，尤其适合对采用单晶片LED的灯具进行结温测量和寿命评估；测试精度高，结温精度±2℃，寿命精度±10%。

测试原理

结温的变化将导致LED发光光谱的峰值出现变化。因此，通过检测不同温度点下LED发光光谱中峰值，获得峰值波长与结温的相关曲线，再测得样品在某温度工作下的峰值并代入曲线中即可得到样品在该环境温度下工作时的结温。本系统采用进口光谱仪，精度高，可靠性强。光学法尤其适用于采用了单晶片封装的LED及其模组和整灯。

 

 

适用范围

l 系统自带夹装平台和各种夹具，经组合后可测量路灯、工矿灯、隧道灯、日光灯、汽车灯等大、中、小各式LED灯具，样品尺寸可达1100×600×400（单位mm），样品重量可达50Kg；

l 除整灯外还可可测量各种LED模组、芯片

l 可同时为8个样品独立供电，一次可同时测量多个样品，互不影响，大大提高检测效率；

l 尤其适用于采用了单晶片封装的LED及其模组和整灯；

l 可测量样品在任意环境温度（+5℃ ~ +125℃）下工作时的结温和寿命；

l 提供环境模拟和LED光谱测试、电参数测试。

系统主要技术参数

系统 参数	型号	JT/LA-I
	外形尺寸	3100 mm×4000 mm×2680 mm
	样品尺寸	1100 mm×600 mm×400 mm
	样品重量	50Kg
	器件结温测试方法	光学法
	结温测量精度	±2℃
	总功率	23.5 KW
	温度调节范围	+5℃～+125℃
	温度控制精度	±2℃
	环境模拟系统供电电源	380V±10%,50Hz±1三相四线+接地线，保护接地电阻＜4Ω
	测试系统供电电源	220V±10%,50Hz±1带接地线，保护接地电阻＜4Ω
光学测量系统	波长范围	200 nm -1100 nm
	分辨率	0.025-20 nm
	光谱仪的积分时间	10毫秒至10分钟
	采样速度	3.7毫秒/每次扫描
	数据传输速度	3.7 ms