光谱仪技术配置
1. 探测器 -- SDD硅漂移探测器(电制冷,只需要通电即可) --典型分辨率:123ev,133ev(50000CPS). --输入计数率:100KCPS,远大于Si-Pin与Si-Li(是其10倍左右) --峰背比:>20000 --铍窗厚度:8um Dura Be(一般的探测器在25um,对轻元素有更好的透过率,独特的Dura技术 Be窗可以耐酸,碱的腐蚀) --处理器:数字电路,放大倍数,时间常数可任意设置。 --高寿命,借助于其独特的Dura Be技术,探测器在几年的时间内探测器的真空不会变坏,晶体不会损伤,无需担心后期的维护费用 2. X射线管 --高压:0-50Kv连续可调 --电流:0-1000uA连续可调(0-2500uA可选,大电流对Na-K有更好的激发效果) --功率:50W --稳定性:8小时0.2% --高寿命,正确操作的情况下寿命可以达到50000小时 3. 高压发生器 --输入电压:24VDC --输入电流:4A --输出电压:50Kv,1mA(2.5mA可选,适配2500mA光管) --功率:50W --稳定性:8小时0.05% 4.精密结构设计 --垂直倒角设计,精密的控制保证优异的重复性,上照式设计可以完全避免灰尘的污染,使得仪器可以做到真正的免维护 5.冷却散热系统 --良好的多级温控自反馈电路,室温在5-25度,仪器结果不会有影响。 6.自动进样系统 --8样品自动进样 二、 光谱分析系统控制和数据处理系统 --12位模/数转换器 --17英寸显示器 -- PentiumE5200计算机 --250G以上硬盘驱动 --多功能标准键盘 --打印机 三、 分析软件--元素测量范围:Na-U --可对RoHS指令中的五种有害元素进行精准测试 --可以测量镀层厚度 --标准曲线法,理论系数法,基本参数法,多元比例法使您轻松应对各种样品的分析 --开放式软件设计,您可以自己开发新的工作曲线 |
高炉渣验收标准 | ||
元素 | 水平范围 | 重复性r |
SiO2 | 5~40 | lgr=1.2028lgm-2.5858 |
Al2O3 | 0.1~25 | lgr=0.1931 lgm-1.1013 |
TFe | 0.1~30 | lgr=0.4353lgm-1.4478 |
CaO | 20~70 | lgr =0.7510 lgm -1.8098 |
MgO | 0.1~20 | lgr =0.4380 lgm -1.4023 |
MnO | 0.01~10 | lgr =0.5388 lgm -1.5048 |
S | 0.01~3 | lgr =0.5485 lgm -1.5077 |
TiO2 | 0.01~2 | lgr =0.2912 lgm -1.7590 |
注:m是分析元素的含量用质量百分数计,以%表示 |
不锈钢及合金钢验收标准 | ||
元素 | 水平范围 | 重复性 |
Si | 0.10~2.30 | r=0.0037+0.0047m |
Mn | 0.14~2.80 | r=0.0056+0.0040m |
P | 0.004~0.070 | r=0.0011+0.022m |
S | 0.007~0.060 | r=0.00040+0.057m |
Cr | 0.14~17.50 | r=-0.00015+0.0037m |
Ni | 0.08~28.50 | r=0.0095+0.0018m |
Cu | 0.06~3.06 | r=0.0052+0.0041m |
Mo | 0.08~2.00 | r=0.0013+0.0038m |
V | 0.05~0.65 | r=0.0022+0.0072m |
Ti | 0.03~0.80 | r=0.0030+0.0040m |
Co | 0.03~0.30 | r=0.0039+0.016m |
Nb | 0.02~1.20 | r=0.0021+0.0038m |
Al | 0.01~1.10 | r=0.0029+0.0092m |
W | 0.08~5.40 | r=0.0039+0.0061m |
Zr | 0.01~0.20 | r=0.0012+0.0032m |
注:m是分析元素的含量用质量百分数计,以%表示 |
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