产品描述
EDX系列古董分析的仪器，主要用于古董元素指纹识别，可进行比对分析，来达到鉴定真品的作用，一次性可同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量，同时，为了更好的利用X荧光分析仪器的无损测量特性，我公司特意根据行业需要可定制作超大型抽真空样品腔，以满足不同大小、器形的陶瓷样品的检验。
EDX系列仪器在测试陶瓷的同时亦可以测试青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、货品（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化学成份和金属镀层厚度，做到一机多用，是古文物检验必选的科学检验仪器。
技术指标
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99%
分析精度：0.05%
同时分析元素：同时可以分析30种以上元素
测量镀层：镀层厚度测量较薄至0.001um
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60s—200s
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
输入电压：AC 110V/220V
消耗功率：200W
环境温度: 15-26℃
相对湿度: ≤70%
标准配置
超薄窗大面积的原装进口Si-pin/SDD探测器
非常高信噪增强器
多套准直器和滤光片系统
光路增强系统
内置高清晰摄像头
加强的金属元素感度分析器
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
面光源
放大电路
高低压电源
无标样分析模型
智能基体效应校正
多重安全保护模式
应用领域
古陶瓷
古青铜器
古首饰
镀层测厚
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