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主营:日本KETT膜厚仪,超声波测厚仪,电解式测厚仪,光泽仪,日本美能达色差仪,粗糙度仪,里氏硬度计,炉温跟进仪

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色差仪:CR400/410/40型

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  • 单价:电议
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  • 所在地:广东 广州
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  • 发布时间:2011-09-02

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产品描述


CR-400/410乃型号的色彩色差计,不但秉承了CR-300/310 的各项优点,并加添了下列全新功能:


更加方便 ─ 探头备有液晶显示屏能单一使用,亦可连接数据处理器或计算机软件。


更加全面 ─ 可显示色度图及多种色度数据。


更加专业 ─ 客户可自行设定各行业指数的方程式。


更加清晰 ─ 液晶显示屏比CR-300/310系列增大四倍。


测量数据及各式配件与CR-300/310系列完全相容。




产品用途:
塑胶、橡胶、涂料、印刷、印染及陶瓷等行业色差分析



技术规格: 型号 CR-400探头 CR-410
照明/测量系统 广阔面积照明/ 0°受光(SCI) 
感光组件 硅光电二极管(6)
显示范围 Y:0.01至160.00% (反射率)
光源 脉冲氙弧灯
测量时间 1秒
少测量间距 3秒
电池表现 约800次测量(根据柯尼卡美能达的标准测试)
测量/照明口径 Ø8 / Ø11 Ø50 / Ø53
重复性 标准偏差ΔE*ab 0.07以内
(测量条件:对白色校准板在白色校准完成后以10秒为间隔测量30次)
仪器误差 ΔE*ab 0.8以内 
测量12块BCRA系列II色板之平均值
观察角 2°近似于CIE 1931等色函数(x2λ, yλ, zλ)
光源 C, D65
显示 色彩数值,色差数值,合格/警告/不合格显示
容差判定 色差容差(方型容差及椭圆形容差显示)
可显示色空间/色度数据 XYZ、Yxy、L*a*b*、Hunter Lab、L*C*h、Munsell (只限光源C)、CMC (l:c)、CIE 1994、Lab99、LCh99、CIE2000、CIE WI*Tw (只限光源D65)、BWI ASTM E313 (只限光源C)、YI ASTM D1925 (只限光源C)、YI ASTM E313 (只限光源C)、使用者指示(多可从计算机设置6个)
语言 操作键,英文LCD:英文(预设) (LCD:德文、法文、意大利文、西班牙、日文)
可储存数据 1000 (测量探头及数据处理器可储存不同数据)
色差标准数据 100
校正信道 20组(ch00:白板校正,ch01至ch19:使用者校正)
显示组件 点阵型LCD附背灯(15字符x 9行+ 1行图案显示)
接口 RS-232C (连接数据处理器/计算机)
*波特率:4800、9600、19200 (bps)、9600 bps为预设
电源 4杖AAA碱性或Ni-MH电池、电源转换器(AC-A17) AC120V~50至60Hz 0.4A
(北美及日本使用)
AC230V~50至60Hz 0.4A (除了北美外世界各地适用)
体积(阔x高x深) 102 x 217 x 63mm
重量 约550克
(包括4杖AAA电池但不包括RS-232C接线)

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  • 经营模式:制造商
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