德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术,更加巩固了其行业地位。不论应用于研发还是产品测量,通过在研究工作中的广泛使用,DektakXT一定能够做到功能更强大,操作更简易,检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)的技术打破,使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高亮度发光二较管的研发以及材料科学领域。
台阶仪Dektak XT能实现:
*使用温度条件:10-30℃;湿度:≤80%,无冷凝
*无可匹敌的性能,台阶高度重现性低于4埃
*Single-arch设计提供具打破性的扫描稳定性
*先进的“智能电子器件”设立了新低噪音基准
*新硬件配置使数据采集时间缩短40%
*64-bit,Vision64同步数据处理软件,使数据分析速度提高了10倍
*频率,操作简易
*直观的Vision64用户界面,操作简易
*针尖自动校准系统
*布鲁克(Bruker)以实惠的配置实现高的性能
*单传感器设计,提供单一平面上低作用和宽扫描范围
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