X射线镀层测厚仪XDAL237

X射线镀层测厚仪XDAL237  

 

在设计上，FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器和XDLM型仪器相对应。区别在于使用的探测器类型不同。在XDAL上，使用了帕尔贴制冷的硅PIN探测器，从而有了远好于XDLM使用的比例计数器的能量分辨率。因而，这台仪器适合于一般材料分析，痕量元素分析及测量薄镀层厚度。

        FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器的测量空间宽大，可以用于测量复杂几何形状的各种样品。马达驱动可调节的Z轴允许放置*高可达140mm高度的样品。C型槽设计可以方便地测量诸如印刷线路板等大平面样品。测量系统配有快速可编程的XY平台，因而可以方便地按照预定程序扫描检查样品表面。此外，在如引线框架等样品上进行多点测量，或是在多个不同样品上进行批量测量，都可以通过快速编程自动化地完成。

        X射线源是一个能产生很小光斑面积的微聚焦X射线管。https:// >然而，由于相对较小的探测器有效接收面积（相比较比例计数器探测器来说），信号强度低，故XDAL有限适用于极微小结构和测量点的测量。和XDLM类似，准直器和基本滤片是可自动切换，以便为不同测量程式创造*佳的激励条件。

特征： 
    • 带有铍窗口和钨钯的微聚焦X射线管。*高工作条件： 50 kV, 50W
    • X射线探测器采用珀尔帖致冷的硅PIN二极管
    • 准直器：4个，可自动切换，从直径Ø 0.1mm 到 Ø 0.6 mm 
    • 基本滤片：3个，可自动切换
    • 测量距离可在0—80mm范围内调节
    • 可编程XY平台
    • 视频摄像头可用来实时查看测量位置，十字线上有经过校准的刻度标尺，而测量点实际大小也在图像中显示。
    • 设计获得许可，防护全面，符合德国X射线条例第4章第3节

典型应用领域：
    • 镀层与合金的材料分析（包括薄镀层以及低含量）。来料检验，生产监控。
    • 研发项目
    • 电子行业
    • 接插件和触点
    • 黄金、珠宝及手表行业
    • 测量印刷线路板上仅数个纳米的Au和Pd镀层
    • 痕量分析
    • 根据高可靠性要求测量铅Pb含量
    • 分析硬质镀层材料