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UM-1 超声波测厚仪
UM-1超声波测厚仪UM-1超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM-1超声波测厚仪具有较小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或较小厚度值；数据存
2011-11-27 /台