UM-1 超声波测厚仪

  UM-1超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM-1超声波测厚仪具有小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或小厚度值；数据存储；报警功能。

UM-1技术数据

工作原理:脉冲～回波方式

测量范围:0.8～300mm

取决于所用探头、所测材料、表面状况

单位和显示分辨率:毫米-0.1/英寸-0.01

探头零点校准:一点校准（用于常规的厚度测量）

                   两点校准（测量曲面壁厚或特殊应用时，可显著提高测量精度）

V路径修正:自动V声程修正，补偿双晶探头的非线性度 
 

示值误差:±0.1mm  (10mm以下)

            ±0.5% H +0.01 (10mm以上)

注：H为被测物厚度

重复性:±0.1mm

显示屏:128×64点阵液晶屏（42×57毫米）, 具有EL背光，可调节对比度, 厚度值数字高度可达13.75毫米

测量刷新频率

常规测量时4Hz，小值扫查时25Hz

材料声速范围:1000～9999m/s，0.0394～0.3937in/us

数据存储:划分5个数组，可存储500个厚度值

工作语言:中文、英文

电源:两节1.5VAA电池,当电池电量不足时，有低电压提示

操作时间:两节5号电池，使用时间可达200小时

            自动关机

            5分钟无操作后自动关机

工作温度:-10℃～+50℃，有特殊要求可达-20℃

尺寸:149mm×73mm×32mm (H×W×D)

重量:含电池200g

标准配置:

主机一台

耦合剂一瓶 

电池两节

探头一只 

包装箱一个 

说明书一本 

合格证一份 

装箱清单一份

选配件:橡胶外套；众多可供选择的探头；校准用阶梯试块；耦合剂及高温耦合剂