CHELLESON SCIENTIFIC INSTRUMENTS COMPANY
主营:热分析仪,X荧光分析仪,X射线镀层测厚分析仪,能量色散型X射线荧光分析仪,原子吸收光谱仪,ICP-OES,紫外-可将光分光光度计,固体TOC分析仪
概要:
将传统的TMA相比,灵敏度提高了2倍。因为是没有形状制约的全膨胀方式,无论是薄膜或碎片样品都可以测定。另外,只须更换探针就可以完成压缩、针入、拉伸测量模式。自动冷却器等的选配件种类充实,将使用便利性和高精度测定成结合在一起。
特长:
1. 高敏感度通过搭载了新开发的信号化技术 “Z-stabilizer” ,实现了噪声水平的降低和高敏感度测定。
2. 高温高湿的条件下也能够进行测定通过选配件的追加,高温高湿的条件下也能够进行测定。另外,在其他方面还能够扩张到膨胀测定以及减压测定。
3. 节能型的冷却装置液氮的消费量削减大约40%(与本公司传统仪器相比)的节能型冷却装置。 电子制冷器也可选用。
4. 高效的环境控制气体控制器中可以安装质量流量计,对环境气氛进行流量的控制。
5. 温度追随性的提高新开发温度控制技术,能够设法减小程序温度和试料温度的差距,提高温度追随性。
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