广州昌利信科学仪器有限公司
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CHELLESON SCIENTIFIC INSTRUMENTS COMPANY
主营：热分析仪,X荧光分析仪,X射线镀层测厚分析仪,能量色散型X射线荧光分析仪,原子吸收光谱仪,ICP-OES,紫外-可将光分光光度计,固体TOC分析仪
产品描述
日本精工电子有限公司的子公司精工电子纳米科技有限公司推出配备自动定位功能的[X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110]，使操作性进一步提高。 特点 即放即测！ 10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！ 无标样测量！ 通过广域观察系统更方便选择测量位置！
对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理，可保证产品的功能及品质，降低成本。精工从1971年首次推出非接触、短时间内可进行高精度测量的X射线荧光镀层厚度测量仪以来，已经累计销售6000多台，得到了国内外镀层厚度、金属薄膜测量领域的高度关注和支持。
为了适应日益提高的镀层厚度测量需求，精工开发了配备有自动定位功能的X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110。通过自动定位功能，仅需把样品放置到样品台上，就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此，无需进行以往的手动逐次对焦的操作，大大提高了样品测量的操作性。
近年来，随着检测零件的微小化，对微区的高精度测量的需求日益增多。SFT-110实现微区下的高灵敏度，即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且，配备有新开发的薄膜FP法软件，即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量，可对应更广泛的应用需求。
通过自动定位功能，放置样品后仅需几秒，便能自动对准观察样品焦点。
以的设计实现微小区域下的高灵敏度，即使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度地提高膜厚测量的精度。
将薄膜FP软件进一步扩充，即使没有厚度标准物质也能进行高精度的测量。也可简单地测量多镀层膜和合金膜样品。
通过广域观察系统，能够从画面上的样品整体图（250×200mm）中方便地指定测量位置。
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