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主营：热分析仪,X荧光分析仪,X射线镀层测厚分析仪,能量色散型X射线荧光分析仪,原子吸收光谱仪,ICP-OES,紫外-可将光分光光度计,固体TOC分析仪

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X射线荧光镀层厚度测量仪

X射线荧光镀层厚度测量仪

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  • 单价：电议
  • 最小起订量： 1套
  • 所在地：广东 广州
  • 供货总量： 10000套
  • 发布时间：2012-08-02
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基本信息 产品描述 同类产品 我要留言

产品描述

概要：

是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。可以测定结构部件有凹凸的样品和印刷基板等大面积样品。对照采用激光射线的Z轴方向的焦点，可以发挥测定值的再现性。而且物美价廉。

特长：

 
1.操作非常简单。 2.运用激光焦点的功能，简单的调整位置。 3.针对有凹凸的样品也搭载了放心的防止冲突传感器。 4.搭载焦点切换机构，可以对高的样品的低部分进行测定。(任意选择) 5.采用可以测定大型打印基板的狭小间隙机构。

1.操作非常简单。

2.运用激光焦点的功能，简单的调整位置。

3.针对有凹凸的样品也搭载了放心的防止冲突传感器。 4.搭载焦点切换机构，可以对高的样品的低部分进行测定。(任意选择) 5.采用可以测定大型打印基板的狭小间隙机构。 铝业网图片 铝业网图片

 
1.操作非常简单。 2.运用激光焦点的功能，简单的调整位置。 3.针对有凹凸的样品也搭载了放心的防止冲突传感器。 4.搭载焦点切换机构，可以对高的样品的低部分进行测定。(任意选择) 5.采用可以测定大型打印基板的狭小间隙机构。

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