CHELLESON SCIENTIFIC INSTRUMENTS COMPANY
主营:热分析仪,X荧光分析仪,X射线镀层测厚分析仪,能量色散型X射线荧光分析仪,原子吸收光谱仪,ICP-OES,紫外-可将光分光光度计,固体TOC分析仪
概要:是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。SFT系列是本公司标准机型。有适用小型部件的SFT9200、有适用大型印刷基板的SFT9255。防止样品和仪器装备结构不吻合的功能是本系列的标准装备。是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。SFT系列是本公司标准机型。有适用小型部
2012-08-02 电议/套日本精工电子有限公司的子公司精工电子纳米科技有限公司推出配备自动定位功能的[X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110],使操作性进一步提高。对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理,可保证产品的功能及品质,降低成本。精工从1971年初次推出非接触、短
2012-08-02 电议/套「SFT9200系列」继承了拥有了20多年历史及光辉业绩的「SFT系列」(操作性与可靠性共存)的优点,并不断地发展,成为可对应较广应用范围的X射线荧光镀层厚度测量仪[新标准机型]。产品型号:SFT9200、SFT9250、SFT9255产品特点:★能够测量无铅焊锡★
2012-08-02 电议/套概要:高速X射线管球的搭载,实现了高精度的测定。而且配合较微小准直器和光学变焦镜头可以实现较微小部分的测定。更可以对有高低平面差异的样品进行测定。特长:1.搭载了75W高性能X射线管。2.搭载标准的Φ50μm微小准直管(较小Φ15μm)。3.容易对微小领域进行观察。搭载了能4
2012-08-02 电议/套概要:SFT9000系列里较好的机型“SFT9455”,搭载75W高速X射线管和双重检验装置(半导体检验装置十比例计数管)。适用“薄膜”、“金属膜”、“较微小部分测定”等所有镀膜膜厚测定要求的高性能膜厚测量仪器。而且“SFT9455”在镀膜厚度测量功能的基础上还可以用作异物定性分析和材料成分
2012-08-02 电议/套概要:是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。可以测定结构部件有凹凸的样品和印刷基板等大面积样品。对照采用激光射线的Z轴方向的焦点,可以发挥测定值的再现性。而且物美价廉。特长:1.操作非常简单。2.运用激光焦点的功能,简单的调整位置。3.针对有凹凸的样品也
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