供应国外镀层膜厚仪

美国原装镀层膜厚仪是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。                                      
美国原装镀层膜厚仪规格描述
X射线激发系统：垂直上照式X射线光学系统
准直器程控交换系统：可同时装配4种规格的准直器
测厚范围 可测定厚度范围：取决于您的具体应用。                        
基本分析功能采用基本参数法校正。                  
样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
可检测元素范围：AL13 – U92
可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
贵金属检测，如Au karat评价                                        
材料和合金元素分析，
材料鉴别和分类检测                                        
液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
多达4个样品的光谱同时显示和比较                                       
元素光谱定性分析
精度高、稳定性好
强大的数据统计、处理功能
测量范围宽
NIST认证的标准片
全球服务及支持
生产厂商:美国博曼（Bowman）

1898年11月8日，伦琴发现了X射线，从此无损检测技术开始发生了质的变革。它使固体内部的缺陷得以直观地显现出来。X射线是一束光子流。在真空中，它以光速直线传播，本身不带电，故不受电磁场的影响。具有波粒二象性。从物理学中，我们知道，凡具有加速度的带电粒子都会产生电磁辐射。因此当电子在高压电场的作用下，高速运动时，突然撞击到靶面，（会产生很大的负加速度）从而形成了所谓的韧致辐射。简单地说，它是由高速运动的电子撞击靶面而产生的。另一方面，当电子的动能足够大时，将会把靶面原子的内层电子轰击出来，在原位置形成孔穴，而此刻，外层的电子（位于高能级）产生跃迁以填补该孔穴。同时，它将多余的能量以X射线的形式放出，形成所谓的标识X射线。标识射线的波长是不连续的。它取决于靶面的材料。通常用于对材料的化学成分进行定性分析。在无损检测探伤中，一般用前者。