产品描述
博曼X-RAY膜厚仪，采用真正的基本参数原理（FP）来测量厚度，
電動的X/Y 桌可以在測量門打開時變速移動X/Y 桌出來給操作員放置樣品及關閉測量門時移動X/Y 桌變速返回到測量位置。
高解像彩色攝影機配合強大的放大倍數功能使樣品的對位十分容易及在測量中也可以監視測量的位置。如型號配備了可編測量位置的儀器更有雷射對位裝置來更快速及準確對準樣品的位置測量。
開槽式的測量室設計，這可使大塊及平坦的樣品，比測量室還大的，例如：電路板，也可以測量。
在整體操作上，在簡易操作及強大功能的電腦WinFTM?軟件下，所有的測量數據的統計可以十分清楚地表達出來。
符合美國的出口規定 軟件是儀器的基本操作.此軟件可以同時間測量多至四層鍍
層、或是進行多至5元素的合金分析、又或是多測量兩個正離子的藥水濃度測量分析。 是另外選購，此軟件可以容許設定測量多至24個需要分析的參數。
在不使用標準片做校正的情況下，可以達至一個相當不錯的測量結果。
測量的準確度是可以用標準片校正來提高，程式是可以接受多至64個標準片來做校正，
標準片校正也可以保證測量可以有追溯性。如果您有什么问题或要求，请您随时联系我们。您的任何回复我们都会高度重视。金东霖祝您工作愉快！
1898年11月8日，伦琴发现了X射线，从此无损检测技术开始发生了质的变革。它使固体内部的缺陷得以直观地显现出来。X射线是一束光子流。在真空中，它以光速直线传播，本身不带电，故不受电磁场的影响。具有波粒二象性。从物理学中，我们知道，凡具有加速度的带电粒子都会产生电磁辐射。因此当电子在高压电场的作用下，高速运动时，突然撞击到靶面，（会产生很大的负加速度）从而形成了所谓的韧致辐射。简单地说，它是由高速运动的电子撞击靶面而产生的。另一方面，当电子的动能足够大时，将会把靶面原子的内层电子轰击出来，在原位置形成孔穴，而此刻，外层的电子（位于高能级）产生跃迁以填补该孔穴。同时，它将多余的能量以X射线的形式放出，形成所谓的标识X射线。标识射线的波长是不连续的。它取决于靶面的材料。通常用于对材料的化学成分进行定性分析。在无损检测探伤中，一般用前者。
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