铜箔测厚仪

cmi165(带温度补偿功能的面铜测厚仪)

  cmi165是一款人性化设计、坚固耐用的世界首款带温度补偿功能的手持式铜箔测厚仪。一直以来，

面铜测量的结果往往受到样品温度的影响。cmi165的温度补偿功能解决了这个问题，确保测量结果精

确而不受铜箔温度的影响。这款多用途的手持式测厚仪配有探针防护罩，确保探针的耐用性，即使在恶

劣的使用条件下也可以照常进行检测。

产品特色：

-- 可测试高温的pcb铜箔

-- 显示单位可为mils，μm或oz

-- 可用于铜箔的来料检验

-- 可用于蚀刻或整平后的铜厚定量测试

-- 可用于电镀铜后的面铜厚度测试

-- 配有srp-t1，带有温度补偿功能的面铜测试头

-- 可用于蚀刻后线路上的面铜厚度测试

产品规格：

--利用微电阻原理通过四针式探头进行铜厚测量，符合en 14571测试标准

--厚度测量范围：化学铜：(0.25-12.7)μm,(0.01-0.5) mils
            电镀铜：(2.0-254)μm, (0.1-10) mils

--仪器再现性: 0.08 μm at 20 μm (0.003 mils at 0.79 mils)

--强大的数据统计分析功能，包括数据记录平均数、标准差和上下限提醒功能。

--数据显示单位可选择mils、μm或oz

--仪器的操作界面有英文和简体中文两种语言供选择

--仪器无需特殊规格标准片，同样可实现蚀刻后的线型铜箔的厚度测量，可测线宽范围低至0.2 mm

--仪器可以储存9690条检测结果（测试日期时间可自行设定）

--测试数据通过usb2.0实现高速传输，也可保存为excel格式文件

--仪器为工厂预校准

--客户可根据不同应用灵活设置仪器

--用户可选择固定或连续测量模式

--仪器使用普通aa电池供电