镀层测厚仪

cmi900（x荧光镀层测厚仪）

应用

cmi900x射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的

情况下进行表面镀层厚度的测量 ，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。

行业

用于电子元器件，半导体，pcb，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器……多个行业表面镀层厚

度的测量。

技术参数

主要规格              规格描述

x射线激发系统          垂直上照式x射线光学系统

                    空冷式微聚焦型x射线管，be窗

                    标准靶材：rh靶；任选靶材：w、mo、ag等

                    功率：50w(4-50kv，0-1.0ma)－标准

                    75w(4-50kv，0-1.5ma)－任选

                    装备有安全防射线光闸

                    二次x射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片

                    任选

准直器程控交换系统      多可同时装配6种规格的准直器

                    多种规格尺寸准直器任选：

                    －圆形，如4、6、8、12、20 mil等

                    －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

测量斑点尺寸           在12.7mm聚焦距离时，小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055mm

                    (使用0.025 x 0.05 mm准直器)

                    在12.7mm聚焦距离时，大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm

                    (使用0.3mm准直器)

样品室

－样品室结构           开槽式样品室

－大样品台尺寸        610mm x 610mm

－xy轴程控移动范围      标准：152.4 x 177.8mm
                    还有5种规格任选

－z轴程控移动高度        43.18mm

－xyz三轴控制方式       多种控制方式任选：xyz三轴程序控制、xy轴手动控制和z轴程序控制、

                     xyz三轴手动控制

－样品观察系统          高分辨彩色ccd观察系统，标准放大倍数为30倍。

                     （50倍和100倍观察系统任选。）

                     激光自动对焦功能

                     可变焦距控制功能和固定焦距控制功能

计算机系统配置          ibm计算机

                     惠普或爱普生或佳能彩色喷墨打印机

分析应用软件            操作系统：windowsxp(oem)中文平台

分析软件包：            smartlink fp软件包

－测厚范围             可测定厚度范围：取决于您的具体应用。

－基本分析功能          采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准

                     样品。

样品种类：             镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)

                     可检测元素范围：ti22 – u92

                     可同时测定5层/15种元素/共存元素校正

                     贵金属检测，如au karat评价

                     材料和合金元素分析，

                     材料鉴别和分类检测

                     液体样品分析，如镀液中的金属元素含量

                     多达4个样品的光谱同时显示和比较

                     元素光谱定性分析

－调整和校正功能         系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移

－测量自动化功能         鼠标激活测量模式：“point and shoot”

                     多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式和重复

                     测量模式

                     测量位置预览功能

                     激光对焦和自动对焦功能

－样品台程控功能         设定测量点

                     连续多点测量

                     测量位置预览

－统计计算功能          平均值、标准偏差、相对标准偏差、大值、小值、数据变动范围、

                     数据编号、cp、cpk、控制上限图、控制下限图

                     数据分组、x-bar/r图表、直方图

                     数据库存储功能

                     任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书

－系统安全监测功能       z轴保护传感器

                     样品室门开闭传感器



●精度高、稳定性好


●强大的数据统计、处理功能


●测量范围宽


●nist认证的标准片


●全球服务及支持