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供应国外博曼XRAY膜厚测试仪

价格

10000 元/台

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  • 最小起订量: 1
  • 所在地:广东 深圳
  • 供货总量: 100
  • 发布时间:2015-03-05

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产品描述

美国原装博曼X-RAY膜厚测试仪是一款简洁、坚固和可靠的质量控制系统,用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。 可应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定(如珠宝鉴定)等行业,完成单层或多层厚度测量。
美国原装博曼X-RAY膜厚测试仪主要特点包括:
可完成至多4层镀层(另加底材)和15个元素的镀层厚度测试,自动修正X射线重叠谱线
卓越的多元素辨识,广泛覆盖元素表上从铝(原子序数13号)到铀(92号)各元素 测厚行业20年知识和经验的积淀.
美国原装博曼X-RAY膜厚测试仪可实现如下测试要求:
符合ISO3497标准测试方法:金属镀层——X射线光谱法测量镀层厚度
符合ASTM B568标准测试方法:X射线光谱仪测量镀层厚度,包括金属和部分非金属镀层
至多同时分析25种元素
经实践验证、坚固、耐用的设计,可在绝大多数严苛的工业条件下使用。
空间占用小 –节约宝贵的工作台空间,也可近产线放置。
计算机提供USB和以太网接口用于连接打印机、光驱和网络。

1898年11月8日,伦琴发现了X射线,从此无损检测技术开始发生了质的变革。它使固体内部的缺陷得以直观地显现出来。X射线是一束光子流。在真空中,它以光速直线传播,本身不带电,故不受电磁场的影响。具有波粒二象性。从物理学中,我们知道,凡具有加速度的带电粒子都会产生电磁辐射。因此当电子在高压电场的作用下,高速运动时,突然撞击到靶面,(会产生很大的负加速度)从而形成了所谓的韧致辐射。简单地说,它是由高速运动的电子撞击靶面而产生的。另一方面,当电子的动能足够大时,将会把靶面原子的内层电子轰击出来,在原位置形成孔穴,而此刻,外层的电子(位于高能级)产生跃迁以填补该孔穴。同时,它将多余的能量以X射线的形式放出,形成所谓的标识X射线。标识射线的波长是不连续的。它取决于靶面的材料。通常用于对材料的化学成分进行定性分析。在无损检测探伤中,一般用前者。

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