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  • 分立器件 参数测试仪
    分立器件 参数测试仪

    系统概述:ENJ1502分立器件测试仪采用上位计算机控制,集点测试和曲线扫描为一体,可实现点参数测试和图示仪功能。软件操作界面友好智能,在PC窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程,操作人员不需具备专业计算机编程语言知识,使用简捷方便。操作软件采用填入式编程方法,专为国内用户开发

    2026-03-31 100000/台
  • ZY-1500R IGBT 静态参数测试系统
    ZY-1500R IGBT 静态参数测试

    系统概述:针对IGBT的静态参数而研发的智能测试系统,功率3500V、1500A(可扩展),自动化程度高,按照操作人员设定的程序自动工作。计算机记录测试结果,测试结果可转化为文本或EXCEL格式存储,工作时序、开关的动作状态、数据采集等均由计算机和PLC共同完成。测试方法灵活,可测试单个

    2026-03-31 100000/台
  • 晶闸管 门极/阻断特性测试仪
    晶闸管 门极/阻断特性测试仪

    系统概述:晶闸管门极/阻断特性测试仪是可用于测量晶闸管的VDRM、VRRM、IDRM、IRRM\VGT、IGT、Ih以及二极管的VRRM、IRRM参数以及其它半导体器件的相关参数测试的专业设备。它的测试方法符合GB/JB/T7626-2013标准。该测试台具有漏电流自动保护功能,过电压

    2026-03-31 100000/台
  • 8KV交流阻断耐久性测试仪
    8KV交流阻断耐久性测试仪

    一、测试设备功能和技术指标1.主要适用功能:本测试设备可对晶闸管、整流管的电耐久性进行试验,测试设备主要技术条件符合JB/T-7626-2013等相关标准。保证设备的安全性和使用耐久性。2.控制方式:采用手动调压试验。对试验电参数(试验时间、电压、漏电流,)进行显示。10个工位为一组控制

    2026-03-31 10000/元
  • ZY-200 雪崩能量 测试系统
    ZY-200 雪崩能量 测试系统

    系统概述:是专门设计测试IGBT、二极管、MOS管测试设备,该设备主要组成单元有:示波器、程控电源、程控电感、电流传感器、电压传感器、雪崩保护电压控制、IGBT功率型器件、IGBT功率型器件保护电路、计算机程控系统、雪崩电压采集系统、雪崩电流采集系统、测试夹具、测试标准适配器等。测试方法符合

    2026-03-30 100000/台
  • DBC-112   可控硅 静态综合测试设备
    DBC-112 可控硅 静态综合

    系统概述:针对晶闸管的静态参数而研发的智能测试设备,电压8500V、10000A(可扩展),自动化程度高,按照操作人员设定的程序自动工作。计算机记录测试结果,测试结果可转化为文本或EXCEL格式存储,工作时序、开关的动作状态、数据采集等均由计算机和PLC共同完成。测试方法灵活,可测试单个

    2026-03-30 100000/台
  • IGCT测试设备功率器件阻断特性测试设备
    IGCT测试设备功率器件阻断特

    系统概述:功率半导体阻断特性测试台主要完成各类功率器件的断态重复峰值电压(VDRM),反向重复峰值电压(VRRM),断态直流电压(VD),及对应的断态重复峰值电流(IDRM),反向重复峰值电流(IRRM),及断态电流(ID)等参数测试。系统单元及参数条件:序号

    2026-03-28 100000/台
  • 自动热稳态模块夹具 供应
    自动热稳态模块夹具 供应

    本实用新型公开了一种自动压力机夹具,包括水平设置在压力机上的多对夹臂,在所述每对夹臂相对的夹持面上均设置有橡胶垫.本实用新型优点在于将夹臂的夹持面上设置有橡胶垫,这样当夹具夹持耐火砖时由于有橡胶垫的缓冲,不仅能够方便的夹取砖体,而且对耐火砖起到一定的保护作用,有效防止了耐火砖夹裂或夹破,减少了耐

    2026-03-28 100000/台
  • 功率器件 图示系统
    功率器件 图示系统

    系统概述:ENJ2005-C是一款很具有代表性的新型半导体功率器件图示系统,系统IV曲线自动生成,也可根据实际需求设置功能测试,直接读取数显结果。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立,保证了数据的准确可靠。提供在线故障判断,遇到器件接触不良时系统自动停止测试。通过USB或者RS232与电

    2026-03-28 100000/台
  • 半导体  分立器件测试设备
    半导体 分立器件测试设备

    系统概述:设备的扩展性强,通过选件可提高电流、电压以及测试品种的范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A。采用了脉冲测试法,脉冲宽度为美军规定的300uS。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试

    2026-03-28 100000/台
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